측정&검사장비
AIMS는 미세표면형상(Surface profile) 및 조도(Roughness)를 측정하는데 주로 사용됩니다.
백색광 기반으로 간섭무늬를 활용하여 정확한 측정값을 제공합니다.
· 백색광 간섭 변위 측정 센서
· 단차, 두께, 조도 측정
· 기존 현미경 활용 가능
· 데이터 자동 분석 및 리포트 (Option)
우수한 성능의
Piezo nanopositioner and scanner for microscope objectives
적용으로 다이나믹한 퍼포먼스를 제공합니다.
국내 개발의 소프트웨어는 사용자 중심의 직관적인 UI로
데이터 획득시 간단한 사용법과 다양한 기능을 제공 합니다.
· 미세한 표면 형상 및 조도 측정
· LCD 및 Display 소자 측정
· Wafer 뒷면의 Packaging, Laser Marking의 Roughness 측정
· MEMS Device 및 정밀 표면 측정
· 자동차 부품 및 소자 측정
서울시 송파구 송파대로 167 테라타워 B동 1123-2호
대표자: 백준배 | 사업자등록번호: 213-81-57942
대표전화: 02-416-8877 | 팩스: 02-445-9509
이메일: ajo@ajotrade.co.kr
ⓒ(주)아조교역 2024. All rights reserved. Hosting by DETASTE.
제품 및 견적문의를 남겨주시면 신속히 연락드리겠습니다.
서울시 송파구 송파대로 167 테라타워 B동 1123-2호 | 대표자: 백준배 | 사업자등록번호: 213-81-57942
대표전화: 02-416-8877 | 팩스: 02-445-9509 | 이메일: ajo@ajotrade.co.kr
ⓒ(주)아조교역 2024. All rights reserved. Hosting by DETASTE.